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全反射X荧光光谱仪有哪些优势之处

发布日期: 2019-08-12
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全反射X荧光光谱技术(TXRF)基于X荧光能谱法(EDXRF),但与能谱分析有着明显的区别:传统EDXRF采用原级X光束以45°角轰击样品,而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角,原级X光束几乎可以全部被反射,照射在样品表面后,尽可能上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生,同时减小了载体的背景和噪声,亦可减少样品使用量。

四川11选5走势图与原子吸收及发射光谱方法相比,TXRF具有如下优势:

1、无需复杂的样品前处理过程,原子吸收或ICP的样品前处理占据了整个分析过程的绝大部分时间,通常耗时几个小时甚至几天,同时TXRF能有效避免前处理引入的误差;

2、对于易挥发元素有良好检测效果,如Hg/As/Se在消解过程中会损失,Cl/Br/I等ICP检测效果较差;

3、检测元素种类更多,可达80余种, 元素分析范围从Na覆盖到U;

4、检出限更低,多数元素在ppt级,尤其Pb/Rh等元素,而原子吸收或ICP为ppb级。

 

与ICP-MS方法相比,两者检出限基本持平,但TXRF可以无视ICP-MS如下痛点:

1、ICP-MS的耐盐度较差,分析高盐分样品时检出限差(S/Ca/Fe/K/Se等),同时酸基体对于测量影响显著,如盐酸、高氯酸、磷酸、硫酸会引起质谱干扰;

2、ICP-MS根据质核比检测元素,当存在同质异位素时,很难准确的完成检测;

3、ICP-MS需要超净实验室,造价昂贵;

4、ICP-MS运行成本高,取样锥、涡轮泵、检测器为易损件。

 

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